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4通道通用光功率计高功率光功率计

4通道通用光功率计高功率光功率计

支持模拟量输出,支持SCPI指令集,支持PXIe Trigger及前面板同步触发,提高了系统测试效率并降低成本。波长范围800nm~1650nm,光功率测量范围+10dBm~-70dBm

半导体静态参数测试仪功率器件测试设备

半导体静态参数测试仪功率器件测试设备

具有高电压和大电流特性、μΩ级导通电阻精确测量、纳安级漏电流测量能力等特点。支持高压模式下功率器件结电容测试,如输入电容、输出电容、反向传输电容等

LCR表精密数字电桥

LCR表精密数字电桥

支持标准SCPI指令集,支持标准PXIe机箱,可快速集成到PXIe测试系统中,提高系统测试效率。广泛用于分立器件、PD管、功率器件、有机OFET等领域CV测试

高精度单模光衰减器

高精度单模光衰减器

高精度单模光衰减器,衰减范围0dB~60dB,衰减分辨率0.01dB,衰减速度≤20ms/dB,支持光闸功能,支持SCPI指令集,支持PXIeTrigger及前面板同步触发,提高了系统测试效率并降低成本

LCR测试仪高性能数字电桥

LCR测试仪高性能数字电桥

支持标准SCPI指令集,支持标准PXIe机箱,可快速集成到PXIe测试系统中,提高系统测试效率。主要用于无源、光电子、半导体等器件或材料的电感值(L)、电容量(C)以及直流电阻(R)的测量

IGBT测试设备功率半导体静态测试机

IGBT测试设备功率半导体静态测试机

集多种测量和分析功能一体,可以精准测量不同封装类型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT,以及SiC第三代半导体等)的静态参数,具有高电压和大电流特性、μΩ级导通电阻精确测量、纳安级漏电流测量能力等特点。支持高压模式下功率器件结电容测试,如输入电容、输出电容、反向传输电容等

PXIe源表支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发

PXIe源表支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发

武汉普赛斯PXIe源表高精度、高采样率、高通道密度,标准的SCPI指令集、支持二次开发能力,广泛用于硅光、IC、分立器件WAT、MEMS电性能测试