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硅光晶圆测试多通道数字源表PXIe插卡式源表

支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试。

单通道高精度多模光衰减器

支持SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板同步触发，提高了系统测试效率并降低成本，衰减范围0dB~40dB，衰减分辨率0.01dB，衰减速度≤20ms/dB，支持光闸功能

4通道通用光功率计高功率光功率计

支持模拟量输出，支持SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。波长范围800nm~1650nm，光功率测量范围+10dBm~-70dBm

半导体静态参数测试仪功率器件测试设备

具有高电压和大电流特性、μΩ级导通电阻精确测量、纳安级漏电流测量能力等特点。支持高压模式下功率器件结电容测试，如输入电容、输出电容、反向传输电容等

LCR表精密数字电桥

支持标准SCPI指令集，支持标准PXIe机箱，可快速集成到PXIe测试系统中，提高系统测试效率。广泛用于分立器件、PD管、功率器件、有机OFET等领域CV测试

高精度国产台式源表微电流测试数字源表

高精度单模光衰减器

高精度单模光衰减器，衰减范围0dB~60dB，衰减分辨率0.01dB，衰减速度≤20ms/dB，支持光闸功能，支持SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板同步触发，提高了系统测试效率并降低成本

4通道光功率计PXIe-6242型

LCR测试仪高性能数字电桥

支持标准SCPI指令集，支持标准PXIe机箱，可快速集成到PXIe测试系统中，提高系统测试效率。主要用于无源、光电子、半导体等器件或材料的电感值(L)、电容量(C)以及直流电阻(R)的测量

IGBT测试设备功率半导体静态测试机

集多种测量和分析功能一体，可以精准测量不同封装类型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT，以及SiC第三代半导体等）的静态参数，具有高电压和大电流特性、μΩ级导通电阻精确测量、纳安级漏电流测量能力等特点。支持高压模式下功率器件结电容测试，如输入电容、输出电容、反向传输电容等