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半导体特性曲线测试仪ivcv曲线分析仪

具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发，具有着越的测量效率与可靠性。基于模块化的体系结构设计

功率器件测试系统igbt/mos静态参数测试机

功率器件测试系统igbt/mos静态参数测试机覆盖IV,CV,跨导等丰富测试功能,全量程0.1%精度,15us超快上升沿,支持恒压限流,恒流限压模式,可定制化夹具,用于晶圆,芯片,器件,模块及IPM全面测试

微电子教学实验平台半导体器件测试系统

普赛斯推出的教学实训平台是以工程教育专业认证为参与高校专业建设，以信息化构建学习者为中心的教育生态，培养集成电路硬件测试人才。为学生提供丰富的教学资源以及贴近现实的产业环境，支撑集成电路相关课程的教学与实训，且能进行项目开发和师资培训，打造集成电路人才培养实践中心，以培养高层次的工程实践能力强的毕业生，提高院校整教学水平

8通道多路数字源表PXIe插卡式源表

武汉普赛斯PXIe系列8通道多路数字源表PXIe插卡式源表高精度、高采样率、高通道密度，标准的SCPI指令集、支持二次开发能力，广泛用于硅光、IC、分立器件WAT、MEMS电性能测试

功率半导体测试电源高压程控电源

E系列功率半导体测试电源高压程控电源具有输出及测量电压高（3500V）、能输出及测量微弱电流信号（1nA）的特点。设备工作在第一象限，输出及测量电压0~3500V，输出及测量电流0~100mA。支持恒压恒流工作模式，同时支持丰富的I-V扫描模式。

半导体器件参数测试仪iv曲线检测

半导体器件参数测试仪iv曲线检测标准的SCPI指令集，上位机软件功能丰富、支持二次开发集成，专用于分立器件电性能测试，

半导体分立器件静态参数测试系统

MEMS传感器电性能分析数字源表PXIe插卡式源表

武汉普赛斯MEMS传感器电性能分析多通道源表PXIe插卡式支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试

硅光晶圆测试多通道数字源表PXIe插卡式源表

支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试。

单通道高精度多模光衰减器

支持SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板同步触发，提高了系统测试效率并降低成本，衰减范围0dB~40dB，衰减分辨率0.01dB，衰减速度≤20ms/dB，支持光闸功能